X Micro-XRF (µXRF)

Technologia fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii (X-ray ED-XRF) jest metodą nieniszczącą, umożliwiającą szybką analizę składu pierwiastkowego różnego rodzaju materiałów.

Najnowszej generacji detektor krzemowy SDD (SiliconDriftDetector) zapewnia rzetelne, dokładne i wysokowydajne pomiary oraz analizy.

WYKONUJEMY

  • analiza jakościowa i ilościowa składu chemicznego próbek w postaci stałej, ciekłej i proszkowych z detekcją pierwiastków od sodu do uranu
  • punktowa analiza składu chemicznego
  • liniowa analiza składu chemicznego
  • mapy rozkładu pierwiastkowego (analiza powierzchniowa)

APARATURA

Urządzenie ATLAS X Micro-XRF (µXRF) firmy IXRF Systems z komorą o największej dostępnej objętości, detektorem SDD o powierzchni aż 150 mm2 oraz najmniejszym na rynku spot size – 5 µm.​

Strona producenta

Specyfikacja:

  • Badania próbek w postaci stałej, ciekłych i proszkowych
  • Wielkość komory: 950x650x365 mm
  • Analizy prowadzone w powietrzu lub pod obniżonym ciśnieniem
  • Źródło wzbudzające: pierwotne50W/50kV/1mA oraz wtórne 4W-12W/40kV-60kV/0,4mA-1mA, anoda Rh, Tube50W (50kV, 1mA)
  • Wielkość plamki (spot size): ≤5μm-1000μm
  • Geometria wiązki: prostopadła (Top-down Beam)
  • Detektory:
    • SDDs (Silicon Drift Detectors)
    • obszar aktywny 50 mm2 oraz 150 mm2
    • rozdzielczość 130-145 eV
  • Geometria wiązki: prostopadła (Top-down beam)
  • Ruch próbki: 600x300x150mm(całkowity), 400x300mm (mapping)
  • Zakres pierwiastków: od Na do U

Więcej informacji na stronie producenta: https://www.ixrfsystems.com/edxrf/atlas/